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本文標題:"數(shù)碼顯微鏡觀察電阻元件的內(nèi)部-金相分析"

發(fā)布者:yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------ 人瀏覽過-----時間:2013-1-7 10:35:16

 可變電阻部位的動作不良 

 
產(chǎn)品:FD用撓性基板 
工序:單面再流焊(無鉛型)
 
現(xiàn)象:
 
為了檢討無鉛化,在試制無鉛焊料時,白色異物進入了可變電阻元件的內(nèi)部,發(fā)生了電阻值躍變的不良情況。
 
設備: FT-IR、數(shù)碼顯微鏡 
 
原因: 
 
分析了白色異物的結果,發(fā)現(xiàn)了與類似于助焊劑殘渣的IR光譜,它可以判斷為助焊劑殘渣。 
 
解決方法:
 
減弱再流焊爐上部的加熱溫度,控制助焊劑被吸乾。 
 

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