本文標題："礦物顯微鏡用N.A值較大的物鏡光譜測量儀器"
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礦物顯微鏡用N.A值較大的物鏡光譜測量儀器
顯微鏡的第二耀光會影響測定結果，避免方法可見
下段。
倍增管光度計特別適用于系統(tǒng)測定礦物在整個可見
光譜內的反射率，從而繪出反射率色散曲線。
具體測定時，有下列兩種程序。
（A）先測定反射率標準在可見光所有波長在整個可
見光譜內的反射率，從而繪出反射率長中的光電流值
，然后計算末知礦物的反射率。
（B）在某一波長測標準和末知礦物后，換一個波長
再測，如此測遍整個欲測光譜。
上述A法很便利，在采用連續(xù)式干涉濾光器時，
只要一次對焦準確，開動光度計后，每隔一定間距
（例如10毫微米）推動一次連續(xù)干涉濾光器，
即可連續(xù)記錄標準和礦物在不同單色光下光電流值
（或反射率），僅在用N.A值較大的物鏡時，
在波長相差較大的波段（例如紅光和藍光）
須重新準焦。此法另一優(yōu)點是
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