本文標題："改善高聚物試樣電子顯微圖象各組分計量金相顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2015-2-13 17:5:35
使得許多重要的形貌細節(jié)（如晶區(qū)和非晶區(qū)的排列及大小分布，共
混及共聚物中各組分的狀態(tài)等）都不能直接在電鏡下觀察到，
因而大大限制了電鏡在高聚物研究中進一步的應用。
近年來，在高聚物電鏡研究中，逐步采用了類似于醫(yī)學中常用的物
理化學染色技術，在改善高聚物試樣電子顯微圖象反差方面取得了顯著
效果。高聚物染色技術是以高聚物本身在化學上（化學鍵及基團的性質）
和物理上（品區(qū)及非品區(qū)密度不同等）的特點為依據，選舉一種或
兩種化學試劑，
在一定條件下，使試劑只攻擊高聚物中的特定區(qū)域（通過化學反應
或物理沉積）而其它區(qū)域又不受這種攻擊，最終使某種重金屬（如餓或
鈾等）被固定在該特定區(qū)。
由于重金屬的引入，擴大了高聚物試樣中不同區(qū)的質級密度差，
因而在電鏡下可觀察到染色前無法看到的形貌細節(jié)。
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