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本文標(biāo)題:"透射式電子顯微鏡在合金研究中的應(yīng)用分析"

發(fā)布者:yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------ 人瀏覽過-----時間:2014-9-25 23:49:40

透射式電子顯微鏡在合金研究中的應(yīng)用分析

 
    早期對時效硬化合金的硬化機(jī)理的解釋,由于缺乏實(shí)驗(yàn)
資料而受到了限制。但當(dāng)時就提出了兩個重要概念。其中一
個是認(rèn)為硬化(或合金形變阻力增加)是由于質(zhì)點(diǎn)沉淀在晶
休學(xué)平面上限礙滑移而引起的。另一個是認(rèn)為最大硬化效應(yīng)
與臨界質(zhì)點(diǎn)尺寸有關(guān)。從本質(zhì)上來說,現(xiàn)代的沉淀硬化概念
就是用位錯理論來考慮這兩個想法。.因?yàn)闀r效硬化合金的強(qiáng)
度是受運(yùn)動位錯和沉淀物的相互作用控制的。
 
    在時效硬化合金中位錯運(yùn)動的障礙物是沉淀物(特別是
GP區(qū))周圍的內(nèi)部應(yīng)變和實(shí)際沉淀物本身。關(guān)于前者,已經(jīng)
證明在質(zhì)點(diǎn)間距等于運(yùn)動位錯線的極限曲率半徑(約50個原
子間距或10毫微米)時位錯運(yùn)動受到最大阻力(也就是最大
硬化)。在這階段,大多數(shù)合金中最主要沉淀物是共格GP區(qū)。
經(jīng)高分辨率的透射電鏡揭示:事實(shí)上這些區(qū)被運(yùn)動位錯所切
過。因此.單個GP區(qū)本身對阻礙滑動位錯只起很小的作用,
而只是由于它們具有較大的體積分?jǐn)?shù)才引起屬服強(qiáng)度顯著
增加。
 

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