本文標(biāo)題："礦物化學(xué)成分的變化反映在折射率的變化-折射測(cè)量?jī)x器"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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礦物化學(xué)成分的變化反映在折射率的變化-折射測(cè)量?jī)x器
由于受硬度、解理、次生變化產(chǎn)物等因素的影響，許多礦物都具有各自固有的不同磨
光特征。它們?cè)斐闪烁鞯V物顯微起伏和表面結(jié)構(gòu)的微細(xì)差異，這些差異可以在干涉顯微
鏡下通過(guò)兩面拋光薄片來(lái)直接觀察。許多礦物的次生變化產(chǎn)物，如云母產(chǎn)生的枯土礦物，
在鏡下很容易鑒別。觀察時(shí)也可用普通的加蓋玻片的薄片。石英的干莎條紋直而平滑，
斜長(zhǎng)石和云母的條紋則為鋸齒狀，故易于鑒別)，有時(shí)甚至不用去注意它們零條紋的
相對(duì)位置也很容易辨認(rèn)。
大家都知道，某一種礦物化學(xué)成分的變化反映在折射率的變化上。這種變化有時(shí)是
因?yàn)榉之愖饔?例如斜長(zhǎng)石斑晶相對(duì)于基質(zhì)成分的變化)，或者是由于反應(yīng)作用(環(huán)帶或者
反應(yīng)邊)而造成的。礦物折射率的任何細(xì)小變化都可由干涉條紋的位移情況而被反映出
來(lái)、被拍攝成照片而記錄下來(lái)。所以說(shuō)，顯示著條紋位移分布狀況的礦物顯掀照相，可以
用于為電子探針?lè)治鲞x擇成分變化的區(qū)域。干涉顯微照相除了限定研究對(duì)象和為探針?lè)?/div>
析定點(diǎn)的作用外，還能預(yù)示礦物預(yù)粒內(nèi)部化學(xué)成分變化的趨勢(shì)。
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