本文標(biāo)題："巖石學(xué)觀察顯微鏡與顯微樣品的制備"

巖石學(xué)觀察顯微鏡與顯微樣品的制備

樣品的制備
    大多數(shù)巖石學(xué)者用標(biāo)準(zhǔn)拋光薄片進行陰極發(fā)光巖石學(xué)觀察。
用于浸注并將樣品固定于載片上的環(huán)氧樹脂必須是耐熱的。
特別是用于冷陰極發(fā)光顯微鏡的薄片，強電子束會導(dǎo)致一些樹脂
的熱損壞。

因為電子束必須直接轟擊樣品，所以薄片不必加蓋片。
為得到清晰可見的微細結(jié)構(gòu)和礦物成份的照片，薄片必須拋光。
用薄片進行巖石學(xué)分析，可以方便地從陰極發(fā)光系統(tǒng)轉(zhuǎn)
換到透射光系統(tǒng)進行結(jié)構(gòu)和礦物成分的觀察和鑒定，
這比僅作單一的陰極發(fā)光或單一的透射光的觀察簡易得多。

    另外，如果不要求透射光觀察，那么拋光的巖塊就可以
進行陰極發(fā)光巖石學(xué)觀察.這為在陰極發(fā)光下快速制備覽觀察
的樣品提供了便利，而不必費時費錢地制作薄片。并且，因為未
被樹脂浸注過的拋光巖塊較厚且不含樹脂，所以更不易于被電子束損壞。

后一篇文章：孔隙的類型及巖石孔隙率測定分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 藻類觀察試驗用光學(xué)微生物顯微鏡

tags:技術(shù),金屬,金相顯微鏡,上海精密儀器,

巖石學(xué)觀察顯微鏡與顯微樣品的制備,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁地址：/gxnews/1312.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/